С 12 по 14 июня в Санкт-Петербурге проходила III Международная научно-практическая конференция молодых ученых и специалистов «За нами будущее» и Международный конкурс «Лучший молодой метролог Межгосударственного совета СНГ»
«…Я рад видеть столь высокий интерес к Конференции и Конкурсу, которая собрала большое количество участников из разных стран…», — обратился к участникам конференции глава Росстандарта Антон Шалаев
В течение нескольких дней более 50 метрологов со всей России и стран СНГ – Таджикистана, Киргизии, Казахстана и Узбекистана, Белоруссии соревновались в области знаний по единству измерений, знанию основ погрешности и использованию передовых измерительных приборов.
52 конкурсанта из 7 стран-участниц МГС СНГ от РФ представляли свои научные работы и эссе. В научном комитете приняли участие замглавы Росстандарта Евгений Лазаренко и руководитель метрологического отдела ВНИИМ, профессор кафедры 6 института ФПТИ Анна Гурьевна Чуновкина. Доклады были посвящены актуальным научным и прикладным темам.
От кафедры метрологического обеспечения инновационных технологий и промышленной безопасности с докладом на конференции молодых ученых выступил доцент Епифанцев К.В. с докладом «Оценка лазерной сканирующей системы для отечественных кругломеров».
