На семинаре выступил аспирант СПбГЭТУ «ЛЭТИ» Цветков К.В. с докладом «Методы повышения точности измерений геометрических параметров оптоэлектронными информационно-измерительными системами»
Семинар проводил профессор, д.т.н. Небылов А.В., и.о. заведующего кафедрой аэрокосмических измерительно-вычислительных комплексов д.т.н., доцент Майоров Н.Н.
В семинаре приняли участие сотрудники и аспиранты кафедры аэрокосмических измерительно-вычислительных комплексов.
