(812) 494-70-55        

Институт фундаментальной подготовки и технологических инноваций


Кафедра метрологического обеспечения инновационных технологий и промышленной безопасности

Метрология связывает воедино теорию и практику в любых отраслях знаний. Как нельзя обойтись без математики в теоретических расчетах, так нельзя обойтись без измерений при реализации этих расчетов

Окрепилов Владимир Валентинович
заведующий кафедрой, профессор, доктор экономических наук, Почетный гражданин Санкт-Петербурга, доктор экономических наук, профессор, академик РАН, заслуженный деятель науки и техники РФ, лауреат Государственной премии РФ в области науки и техники , премий Президента РФ, Правительства РФ и Правительства СПб в области образования, член Президиума РАН

 

В метрологии выделяются три направления: теоретическая, законодательная и прикладная. С одной стороны, это свидетельствует о широте инженерно-научной подготовки метролога, а с другой - о больших возможностях, которые открываются перед молодым специалистом, выбирающим область своих профессиональных интересов.

Основоположник отечественной метрологии Д. И. Менделеев сказал: «В природе мера и вес суть главное орудие познания. Наука начинается с тех пор, как начинают измерять, точная наука немыслима без меры»

Значимость работы специалистов-метрологов возрастает при переходе к рыночным отношениям, связанным с конкуренцией производителей и, следовательно, с повышением требований к качеству и надежности технических устройств и систем. Особая, если не главная, роль принадлежит метрологам в области оценки соответствия продукции установленным требованиям.

Международный товарообмен требует наличия в каждой стране средств измерений и испытаний, соответствующих международному уровню, а также обеспечения единства измерений, которое простирается на все сферы экономики и науки на мировом уровне. Приоритетным направлением развития в мире и в России объявлены нанотехнологии. В связи с этим актуальной становится сейчас нанометрология и связанные с ней области стандартизации и сертификации.

Качеством и точностью измерений в настоящее время определяется возможность создания принципиально новых технических устройств. Обеспечение единства и точности измерений возлагается на метрологические службы различных уровней. Очень актуально сейчас звучит фраза: «С помощью метрологии - к качеству, а с качеством - к высокой производительности».

Метролог может найти себя на переднем крае науки, посвятить свою деятельность разработке стандартов, законодательных аспектов метрологии или работать в прикладной метрологии, воплощая в жизнь разработки и положения теоретической и законодательной метрологии.

Местом работы выпускника кафедры могут стать НИИ и образовательные заведения, предприятия, производящие и обслуживающие контрольно-измерительное оборудование, отделы главного метролога промышленных предприятий, поверочные лаборатории, метрологические службы и службы сертификации.

В условиях приоритетного развития нанотехнологий метрология приобретает особую значимость в связи с необходимостью опережающего развития техники и методик измерений в нанодиапазоне.

Большинство выпускников кафедры устраивается на работу метрологами, что говорит о востребованности специальности на рынке труда и о соответствии условий работы запросам молодых специалистов.

Рекламный буклет о кафедре
Положение о кафедре

Варехов Алексей Григорьевич
доцент, кандидат технических наук

Грабарь Анатолий Григорьевич
доцент, кандидат технических наук

Епифанцев Кирилл Валерьевич
доцент, кандидат технических наук

Колобашкина Татьяна Владимировна
доцент, кандидат технических наук

Коновалов Александр Сергеевич
профессор, доктор технических наук

Мишура Тамара Прохоровна
доцент, кандидат технических наук

Окрепилов Владимир Валентинович
заведующий кафедрой, доктор экономических наук, профессор

Пучкова Ольга Константиновна
старший преподаватель

Скориантов Николай Николаевич
доцент, кандидат технических наук

Сулаберидзе Владимир Шалвович
профессор, доктор технических наук, с.н.с

Туровская Мария Сергеевна
доцент, кандидат экономических наук

Целмс Роман Николаевич
доцент, кандидат технических наук

Чуновкина Анна Гурьевна
профессор, доктор технических наук


В учебный процесс вовлечены авторитетные специалисты сторонних кафедр, а также действующие учёные-метрологи Метрологической академии, среди которых есть представители Всероссийского НИИ Метрологии им. Д.И. Менделеева, Санкт-Петербургского филиала академии стандартизации, метрологии и сертификации, института проблем машиноведения Российской академии наук, ОАО Холдинговой компании «Ленинец»

Бакалавриат

Направление 27.03.01 — Стандартизация и метрология

  • Метрология, стандартизация, сертификация        — заочная форма обучения:  4 года 11 месяцев
  • Метрология, стандартизация, сертификация        — очная форма обучения:  4 года

Магистратура

Направление 27.04.01 — Стандартизация и метрология

  • Метрологическое обеспечение технологических процессов и производств        — заочная форма обучения:  2 года 6 месяцев
  • Метрологическое обеспечение технологических процессов и производств        — очная форма обучения:  2 года

Специалитет

Направление 27.05.02 — Метрологическое обеспечение вооружения и военной техники

  • Эксплуатация средств измерений военного назначения и их поверка        — очная форма обучения:  5 лет
  • Метрологическое обеспечение авиации военного назначения        — очная форма обучения:  5 лет

Техническое обеспечение учебного процесса

Информатизация и автоматизация средств измерений являются ключевым положением организации учебного процесса на кафедре.

Учебный процесс построен на принципах тесной связи естественнонаучной подготовки и современных информационно-измерительных технологий. Таким образом, выбор направления «Стандартизация и метрология» дает молодому специалисту хорошее базовое образование, владение информационными технологиями и обеспечивает ему устойчивые позиции на рынке труда

Сегодня нелегко найти прибор чисто аналогового типа с магнитоэлектрической системой и стрелочной шкалой: термометр практически де факто стал цифровым, мультиметры, весы, счётчики электроэнергии и прочей расходометрии, даже штангенциркули, − все современные приборы имеют цифровой индикатор. Соответственно, нетрудно предположить наличие в современном измерительном приборе цифровых датчиков или аналоговых датчиков, обслуживаемых аналого-цифровыми преобразователями, микропроцессорами. Эти приборы объединяются в измерительные системы с помощью сетевых технологий.

Сложные методики измерений сегодня выполняются микропроцессорами и внедряются в широко распространённые средства измерений. Современный цифровой фотоаппарат является ярким примером цифрового средства измерений. Метрология состояния сложных систем (электростанций, орбитальных комплексов и т.д.) предполагает мультипроцессорные распределённые вычисления с соответствующим сетевым сопровождением, кабельными и беспроводными линиями связи.


Лаборатории

В распоряжении кафедры находятся лаборатории, оснащенные современным электроизмерительным оборудованием, которое представлено аналоговыми и цифровыми измерительными приборами, информационно-измерительными комплексами, а также модульным оборудованием и гибким программным обеспечением National Instruments (NI), которое позволяет студентам и преподавателям не только воплощать в жизнь свои идеи по созданию учебных стендов, автоматизации экспериментальных установок, модернизации лабораторий, но и использовать уже готовые практикумы, созданные специалистами компании NI и её партнерами.

Лаборатория
измерений

Б. Морская 67, аудитория 52-51

Лаборатория метрологии на базе ФГУ ТЕСТ-СПб

Б. Морская 67, аудитория 13-13

Лаборатория безопасности жизнедеятельности

Б. Морская 67, аудитория 14-05

Направления научной деятельности кафедры

  • метрологическое обеспечение нанотехнологий, измерение свойств наночастиц и наноматериалов
  • оценка соответствия продукции наноиндустрии
  • теория и практика автоматического и интеллектуального управления
  • методы и приборы контроля параметров дисперсной фазы аэрозолей
  • теоретическая метрология

Научные исследования на кафедре ведут выдающиеся ученые:

Окрепилов Владимир Валентинович Окрепилов Владимир Валентинович – академик РАН, профессор - известный ученый-экономист, является руководителем нового научного направления: теория, методология и методы экономических и социальных проблем качества, организационно-экономические условия обеспечения качества и конкурентоспособности.

Им предложены методики анализа и оценки деятельности предприятий и организаций по критериям модели всеобщего менеджмента качества, принципы формирования инфраструктуры управления качеством в регионе, разработаны основы формирования системы непрерывного обучения кадров в области управления качеством, стандартизации, метрологии, сертификации. Председатель диссертационного совета Д 212.237.09 по защите докторских и кандидатских диссертаций по специальности 08.00.05 «Экономика и управление народным хозяйством» (по специализации «Экономика и управление качеством» и «Управление инновациями и инновационной деятельностью») В.В. Окрепилов яляется основателем новой области экономической науки – экономики качества, основанной на применении инструментов менеджмента качества, стандартизации и метрологии в обеспечении социально-экономического прогресса и повышении качества жизни, руководителем научной школы по экономике качества. Автор работ по повышению эффективности регионального развития на основе внедрения моделей управления качеством на мезо- и макроуровне. Под его руководством впервые проведены фундаментальные научные исследования и практические расчеты экономического эффекта от деятельности в областях стандартизации и метрологии; разработана не имеющая прямых аналогов в мире национальная система управления качеством, основанная на реализации методов программно-целевого планирования и направленная на повышение темпов модернизации экономики страны.

Автор и соавтор более 470 научных работ, в том числе 22 монографий, 6 учебников, 13 учебных пособий. Основные работы выполнены в области экономики качества, повышения эффективности инновационного развития, теории стандартизации и обеспечения единства измерений. В настоящее время более 100 крупнейших российских ВУЗов используют учебники Окрепилова В.В. в учебном процессе.

Также, за работу «Международная сертификация системы качества Российского высшего про¬фессионального образования» президент ГУАП Оводенко А. А., первый проректор Хименко В.И. и заведующий кафедрой Окрепилов В.В. в 2008 г. стали лауреатами премии Правительства Российской Федерации в области образования.

Окрепилов В.В. ведет активную общественную и научную деятельность в качестве заместителя председателя Научно-технического совета при Правительстве Санкт-Петербурга, члена Президиума Союза промышленников и предпринимателей Санкт-Петербурга, Президиума Совета ректоров вузов Санкт-Петербурга, председателя Общественного совета Адмиралтейского района Санкт-Петербурга, члена Бюро Отделения общественных наук Российской академии наук и Президиума Санкт-Петербургского научного центра РАН, члена Общественной палаты РФ и Общественной палаты Санкт-Петербург.

В.В. Окрепилов – президент Метрологической академии России, один из основателей Академии проблем качества России и президент ее Санкт-Петербургского отделения, член Королевского института качества (Великобритания), академик Международной академии качества, член Европейского фонда управления качеством и Международной Гильдии профессионалов качества.

Окрепилов В.В. - лауреат Государственной премии РФ и Премии Правительства РФ в области науки и техники; Премий Президента РФ, Правительства РФ и Правительства Санкт-Петербурга в области образования; премии им. В.В. Новожилова в области общественных наук Правительства Санкт-Петербурга и Санкт-Петербургского научного центра РАН; премии Российской академии наук за лучшие работы по популяризации науки. Заслуженный деятель науки и техники РФ, Почетный работник науки и техники РФ, Почетный метролог. Награжден нагрудным знаком «За заслуги в области стандартизации», орденом «За заслуги» Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации стран-участниц Содружества Независимых Государств, почетной медалью им. И.А. Ильина «За движение к качеству и его культуре», почетными грамотами и дипломами Министерства промышленности и торговли РФ. Почетными дипломами Законодательного Собрания Санкт-Петербурга и Ленинградской области, Грамотами Губернатора Санкт-Петербурга и Губернатора Ленинградской области.

Коновалов Александр Сергеевич Коновалов Александр Сергеевич - профессор, заведует лабораторией аэрокосмических технологий Института проблем машиноведения РАН, главный научный сотрудник по перспективным разработкам филиала ФГУП «Крыловский государственный научный центр». Участвовал в создании систем управления бортовыми авиационными и корабельными агрегатами, а также крупным наземным и космическим радиотелескопами. Разработанные системы дважды экспонировались на авиасалоне в Ле-Бурже и на корабельном салоне в Санкт-Петербурге. В качестве научного руководителя подготовил четырех кандидатов технических наук, осуществляет научное консультирование докторских диссертаций. Член четырех диссертационных советов.

Румянцев Валентин Васильевич Румянцев Валентин Васильевич - доцент, автор 19 изобретений. В 1975 г. присвоено звание «Изобретатель СССР». Изобрения в области методов и средств измерения параметров промышленных и естественных аэрозолей.

Чуновкина Анна Гурьевна Анна Гурьевна Чуновкина, профессор участвует в организации регулярного международного семинара «Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений», проводимом Всесоюзным научно-исследовательским институтом метрологии им.Д.И.Менделеева (ВНИИМ) раз в два года, регулярно выступает с докладами на международных конференциях «Современные математические и вычислительные методы в метрологии и испытаниях» (AMCTM), организуемых под эгидой ИМЕКО ТК 21, является членом международного программного комитета десятой юбилейной конференции AMCTM2014.


Конференции и семинары

Студенты участвуют в разработке учебно-исследовательских информационно-измерительных систем, имеют возможность прохождения практики в отделах главного метролога на ведущих предприятиях, получают доступ к работе на уникальных информационно-измерительных системах.

Доктор технических наук, профессор Чуновкина А.Г. в 2014 г. приняла участие в организации международного семинара «Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений», проводимого Всесоюзным научно-исследовательским институтом метрологии им. Д.И.Менделеева (ВНИИМ).

Один раз в два года она регулярно выступает с докладами на международных конференциях «Современные математические и вычислительные методы в метрологии и испытаниях» (AMCTM), организуемых под эгидой ИМЕКО ТК 21, является членом международного программного комитета десятой юбилейной конференции AMCTM2014. Последняя конференция состоялась в 2014 году в Санкт-Петербурге.

Окрепилов Владимир Валентинович
заведующий кафедрой

 

Мишура Тамара Прохоровна
Заместитель заведующего кафедрой

Заведующий лабораторией
Елисеева Людмила Андреевна

Контактная информация
Эл. почта:

Кабинет: 52-53а (Б. Морская 67)
Телефон: (812) 494-70-75

Кабинет: 14-01 (Б. Морская 67)
Телефон: (812) 494-70-15

 

 

 

Кафедры института ИБМП:

Яндекс.Метрика